xrd基本原理：XRD即X-ray diffraction的縮寫， X射線衍射，通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。

什么是xrd分析

xrd分析：是X射線衍射，通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。

X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量粒子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生最大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線。

XRD主要應(yīng)用：X射線衍射在材料中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對(duì)材料測(cè)得的衍射晶面間距及衍射線強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)物相的衍射數(shù)據(jù)相比較，確定材料中存在的物相;后者則根據(jù)衍射花樣的強(qiáng)度，確定材料中各相的含量;在研究性能和各相含量的關(guān)系和檢查材料的成分配比等方面都得到廣泛應(yīng)用。

XRD和XRF的區(qū)別

XRF檢測(cè)的是元素組成及含量，而XRD則反映的是化合物的結(jié)構(gòu)情況，因而兩者的應(yīng)用場(chǎng)合也有著本質(zhì)的區(qū)別。具體如下：

1，用途不同。

XRD是x射線衍射光譜，(X-ray diffraction analysis)是用于測(cè)定晶體的結(jié)構(gòu)的，而XRF是x射線熒光發(fā)射譜，(X-ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測(cè)定原子序數(shù)小于Na的元素，定量測(cè)定的濃度范圍是常量、微量、痕量。

2，原理上的差別。

XRD是以X射線的相干散射為基礎(chǔ)，以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶體理論、倒易點(diǎn)陣厄瓦爾德圖解為主要原理的;

XRF則是以莫斯萊定律(1/λ)1/2=k(Z-S)，k,S是與線性有關(guān)的常數(shù)。因此，得出不同元素具有不同的X射線(即特征線)為基礎(chǔ)對(duì)元素定性、定量分析的。